一、设备名称：纳米粒度及ZETA电位仪型号：Anton Parr Litesizer500技术参数：粒度测量范围：0.3nm-100um；半导体激光器40mw，658nm；单角度浓度测量范围：50%w/v；Zeta电位测量的电导率范围：0-200ms/cm；测量范...
一、设备名称：高温原位拉曼光谱仪型号：HoribaLabRAM Odyssey技术参数：配有325nm，532，633三个激光器；光谱范围:200～1100nm；分辨率:可见≤0.65 cm-1，紫外≤1.5 cm-1；高光谱重复性：优于±0.03cm-1；高温从...
一、设备名称：全自动比表面及孔径分析仪型号：TriStar II Plus技术参数：1.仪器配置：分析站：3个分析站，3个分析站位于同一个杜瓦瓶中，三站同时测试 脱气站：6个，采用流动吹扫及加热两种功能 饱和压力站：1个...
一、设备名称：研究级冷热台偏光显微镜型号：Axio Scope.A 1技术参数：测微台尺1000um，摄像头500万像素，可用于液氮至300℃的测量。检偏镜滑尺可旋转360°。二、服务项目可用于固体，薄膜，液体的偏光测试三、联...
一、设备名称：原子层沉积设备型号：日立SU8010技术参数：序号名称规格数量1反应腔体结构1）标准PE反应腔室，样品温度最高可达400℃，控制精度±1℃；2）样品台：最大可放置直径4寸样品，兼容小尺寸样品；1套2前驱...
一、设备名称：紫外-可见分光光度计型号：U-3900H技术参数： 波长范围:190~ 900nm；光谱带宽:0.1,0.5,1,2,4,5nm；波长准确度:±0.1 nm；波长重复性:±0.05 nm；光度值范围:Abs: -5.5 to 5.5；基线平坦度:±0.0003 Ab...
一、设备名称：荧光光谱仪型号：F-7100技术参数：波长范围:200～900nm和零次光；分辨率: 1.0nm；波长准确度: ≤±1nm。响应时间:从0～98%:0.002/0.004/0.01/0.05/0.1/0.5/2/4s；波长扫描速度:30-60000nm/min(扫描...
一、设备名称：傅立叶红外分析仪型号：INVENI0技术参数：光谱范围:8000～350 cm-1（可扩展升级到28000～15 cm-1）；分辨率:优于0.16 cm-1；波数精度：优于0.0005 cm-1@1554cm-1（十次重复测量）； 波数准确度：优...
一、设备名称：反应离子刻蚀机型号：RIE-1C技术参数：刻蚀均匀度：±5%；真空反应室为石英玻璃；载片盘满足4英寸样品实验；射频电源13.56MHz，200W，全固态，晶体控制；射频测量为数字式，可读出正向和反射功率。C...
一、设备名称：食品物性分析仪型号：TMS-PRO技术参数：测试范围200N- 50 N；探头最大移动速率40mm/s；探头最小移动速率0.01mm/s；位置精度 0.5%/0.1mm；速度精度 0.1％；力量值测量精度±0.1g行进间误差≤0.1％；...
