一、设备名称：原子层沉积设备型号：日立SU8010技术参数：序号名称规格数量1反应腔体结构1）标准PE反应腔室，样品温度最高可达400℃，控制精度±1℃；2）样品台：最大可放置直径4寸样品，兼容小尺寸样品；1套2前驱...
一、设备名称：紫外-可见分光光度计型号： U-3900H技术参数： 波长范围:190~ 900nm；光谱带宽:0.1,0.5,1,2,4,5nm；波长准确度:±0.1 nm；波长重复性:±0.05 nm；光度值范围:Abs: -5.5 to 5.5；基线平坦度:±0.0003 ...
一、设备名称：荧光光谱仪型号：F-7100技术参数：波长范围:200～900nm和零次光；分辨率: 1.0nm；波长准确度: ≤±1nm。响应时间:从0～98%:0.002/0.004/0.01/0.05/0.1/0.5/2/4s；波长扫描速度:30-60000nm/min(扫描...
一、设备名称：傅立叶红外分析仪型号：INVENI0技术参数： 光谱范围:8000～350 cm-1（可扩展升级到28000～15 cm-1）；分辨率: 优于0.16 cm-1；波数精度：优于 0.0005 cm-1@1554cm-1（十次重复测量）； 波数准确度...
一、设备名称：反应离子刻蚀机型号：RIE-1C 技术参数：刻蚀均匀度：±5%；真空反应室为石英玻璃；载片盘满足4英寸样品实验；射频电源13.56MHz，200W，全固态，晶体控制；射频测量为数字式，可读出正向和反射功率。...
一、设备名称：食品物性分析仪型号：TMS-PRO技术参数：测试范围200N- 50 N；探头最大移动速率40mm/s；探头最小移动速率0.01mm/s；位置精度 0.5%/0.1mm；速度精度 0.1％；力量值测量精度±0.1g行进间误差≤0.1％...
一、设备名称：全自动表面张力仪型号：K100技术参数：张力测量范围：1-1000mN/m，测量精度：0.001mN/m，测量速度：50数据/秒 ；接触角测量范围：0-180°，测量精度：0.01°；样品台提升速度：0.099-160mm/min；样品...
一、设备名称：高温高压流变仪型号：MCR302技术参数： Peltier 同轴圆筒温度范围：-20～200℃；Peltier椎平板温度范围：-20～200℃；温度精度：±0.1℃。最大压力：150Pa；最小扭矩：3nNm扭矩，分辨率：0.1nNm；马...
一、设备名称：高温泡沫扫描仪型号：HT FOAMSCAN技术参数：高温泡沫扫描仪，鼓泡法产生泡沫，温度可达120℃，压力10Pa；可全自动测量：液体起泡能力和泡沫稳定性；软件可控制气流量；实时测量和显示：泡沫导电性...
一、设备名称：场发射扫描电子显微镜型号：日立SU8010技术参数：二次电子分辨率1.0nm（加速电压15kV、WD＝4mm）1.3nm（加速电压1kV、WD＝1.5mm）加速电压0.1～30kV观测倍率20～8000,000(底片输出)60～2,000,000（...
